2.4.1二氧化硅含量

　　经样本检测，我国熔融石英的二氧化硅含量在99.5%-99.999%之间，超过ISO规定的A级≥99.5%，B级≥99.0%。我国熔融石英已打破美国尤尼明公司的垄断，申请多项国际专利，质量和性能显著提高，产品广泛出口欧美，并在高附加值产品领域崭露头角。

　　标准制定参会人员认为，作为基本要求的二氧化硅含量如采用我国的高标准，在树立我国熔融石英品牌美誉度上有正面作用，但众多下游产品对熔融石英的二氧化硅含量要求≥99.0%或≥99.5%即可，自行提高标准要求，一方面不利于我国出口企业灵活调整产品等级，另一方面使我方在贸易争端上处于不利地位（符合ISO要求，但不符合自我承诺的高标准）。故仍采用ISO分级标准确定的参数值。

　　2.4.2晶状石英含量

　　熔融石英中残留的结晶型石英包括α-石英、β-石英、α-磷石英、β-磷石英、γ-磷石英、α-方石英、β-方石英。

　　ISO标准仅对石英和方石英含量规定了限值。同时对石英和方石英含量分别规定限值（A级：≤0.5%，B级≤1.0%），若二者同时存在，则其可允许的残留结晶型石英含量高达1%（A级）、2%（B级），如此高的晶态残留显然无法满足下游产品的质量要求。

　　为此，将ISO中的“石英”和“方石英”指标合并成“晶态石英”，囊括了所有可能的残留晶型。经样本检测，正常工艺生产的熔融石英，其晶态石英含量在0.02%-0.85%之间；下游产品除高性能光学材料等领域个别产品以外（可根据合同另行约定），分级标准参数值设定为A级：≤0.5%，B级≤1.0%是适宜的，即所有晶态物质的残留总含量（各晶型残留含量叠加值）不得超过原ISO规定的单项指标限值。

　　2.5检验方法

　　2.5.1晶态石英检验方法的确定

　　原ISO标准试验方法只提供了提示性字样：“X射线衍射”，未提供检验方法号或具体的方法内容。在目前国内可供选择或参考的标准方法中，《转靶多晶体X射线衍射方法通则》（JY/T009-1996），由于转靶方法测量误差大，现已基本不采用；《用X射线衍射法鉴定涂料中结晶颜料和填充剂的试验方法》（ASTMD3720-1990（2005））已作废；《电子及电器工业用二氧化硅微粉》（SJ/T10675-2002）中提供的是无定形二氧化硅（即熔融石英）的检测方法，可以据此间接计算出晶态石英含量（二氧化硅含量减去无定形二氧化硅含量），由于不能直接检测，仍不是最优法。

　　《沉积岩中粘土矿物和常见非粘土矿物X衍射分析方法》（SY/T5163-2010）提供了详尽的检测步骤，只需选用相应的晶态标准物质作为标样即可直接应用。

　　2.5.2其他

　　ISO标准中明确了二氧化硅含量、105℃挥发物、最大烧失量、水溶物、悬浮液pH值、45μm筛孔筛余物含量、粒度分布、比表面积、颜色、亮度、水萃取液电阻率、油吸值等指标的ISO检验标准。在校核其相应采用（idt，eqv，neq）的现行国家标准的适用性后，直接引用。

　　2.6检验规则与标志、包装、运输、贮存

　　根据我国实际情况，新增检验规则与标志、包装、运输、贮存两个章节，加强产品质量进行全过程保障和监督。其中《包装储运图示标志》（GB/T191）系国家强制性标准要求。

　　3结束语

　　通过对生产企业、科研与检测机构、市场等三方充分调研，多次召集全国人工晶体专家和代表性企业与会，以科学、开放、民主的态度平等协商，保证了标准的国内先进性与实用可操作性，较好地完成了行业标准《熔融石英》的制定任务。

　　参考文献

　　[1]ISO3262-15，Extendersforpaints-Specificationsandmethodsoftest-Part15：Vitreoussilica[S].Switzerland：Isocopyrightoffice，2000.

　　[2]SJ/T10675-2002电子及电器用二氧化硅粉[S].北京：中国标准出版社，2002.

　　[3]刘智恩.材料科学与工程[M].西安：西北大学出版社，2012.

　　[4]李全林.前沿领域新材料[M].南京：东南大学出版社，2008.

　　[5]MoriakiWakaki，Keieikudo，Takehisashibuya，ZhouHuajun.Opticalmaterialsmanual.[M].Xian：NorthwesternUniversityPress，2010.

　　[6]YB4076-1991连铸用熔融石英质耐火制品[S].北京：中国标准出版社，1991.

　　[7]张跃.陶瓷工艺学[M].北京：化学工业出版社，2010.

　　[8]陈平，刘胜平，王德忠.环氧树脂及其应用[M].北京：化学工业出版社，2011.

　　[9]北京华经纵横咨询有限公司.熔融石英市场专项深度调研报告[R].